2013年同济大学《材料研究方法》真题
一．名词解释
1.特征X射线 2.二次电子 3.质后衬度 4.振转光谱 5.基团频率
二．简答题
1.写出Bragg方程，解释其中个参数的物理意义，并说明该方程在材料研究中的应用。 2.阐述SEM图像的衬度原理。
3.写出四种热分析技术名称，以及它们各自主要的应用领域。
4.写出胡克定律的数学表达式，并根据该表达式举例解释IR基团频率变化规律。 5.请阐述核磁共振谱图中化学位移产生的原因。 6.对未知材料进行剖析的大致步骤。
三．谱图题
1.画出一幅X射线衍射谱示意图，指出峰位表示方法，并说明通过该谱图可以得到材料哪些信息。
2.画出某一元素的波成色散示意图，并说明该图中各峰的物理意义。
3.画出某一材料的DTA曲线，并指出曲线中各个峰或台阶代表的物理意义。 4.画出一幅核磁共振示意谱图，并指出从中能获得哪些材料的信息。
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